北京合能阳光新能源技术有限公司(以下简称合能阳光)总部位于北京通州工业开发区,公司主导产品涉及半导体及光伏行业的检测仪器、工艺和耗材领域,是集研发、生产、销售、服务及对外投资于一体的综合性高科技公司。
公司所服务的客户来自于国内知名企业,如赛维LDK、保利协鑫、比亚迪、中电集团、亿晶光电、旭阳雷迪、锦州阳光、Ferro申和热磁、国泰半导体、晶鑫科技、湖北晶星、大全新能源、新疆新能源、晶龙集团、Pro-Q、光为、国电集团、京运通、七星华创、新天源、超日、中国科学院、中国表面物理与化学研究、成都光电、包头山晟等几百家半导体和太阳能单位。
公司现有员工34人,大专本科以上学历25人,研究生6人,博士1人,建筑面积3000m2。
近年来,公司的海外市场发展势头良好,产品出口到美国、欧洲、韩国、新加坡等国家地区,目前公司在和海外同行建立产品加工合作关系的同时还建立自己的代理商和销售中心。
籽晶是生长单晶的种子,也叫晶种。用不同晶向的籽晶做晶种,会获得不同晶向的单晶。本公司提供以下多种类型籽晶: ■全锥型籽晶 ■φ14.0/8.0mm*120mm ■φ17.5/11.5mm*1...
母合金掺杂剂■掺杂,又称配料,掺杂的目的主要是用来改变硅熔体中施主杂质(如磷)或受主杂质(如硼)的杂质浓度,使其生长出的单晶电阻率达到规定的要求。所谓“母合金”就是杂质元素与硅的合金。本公司提供以下多...
我公司的经销的进口硅材料氧碳含量测试仪器,所测硅料硅棒硅片氧、碳含量自动、快速、准确,可靠性高,稳定性好,一致性佳,ASTM线性度对0.0%T的偏离小于0.07%T,是全球公认标准的氧碳含量测试仪...
太阳能电池片数片机,可对太阳能硅片及电池片进行准确计数分析。是一款简洁、高效、、高品质的数片机。同时可配合barcode系统进行产品管理,避免数量不准确而带来的麻烦,避免公司品牌因为数量之差而蒙受...
HS-ATS-100硅片电池片自动测试架是使用单板机可编程控制,步进电机驱动,丝杆滑动,定位,操作方便,可随意调节探头的下降点,上升点固定,探头在点的停留时间范围广(从0-20秒)。硅片硅锭均可测...
HS-JF-Z2蓝宝石定向仪,是我公司基于市场目前缺乏对晶体生长切割后,需要对晶圆进行晶向指数分析,晶体长势分析,晶体缺陷分析等一系列有益于晶体更完好的呈现,它利用布拉格衍射方程2dHKLsinθ...
硅片测厚仪(HS-WTT) 适用于量程范围内的硅片等各种材料的厚度测量。 特征 液晶显示 接触式测量 手动测量模式 数据实时显示 具有输出接口,可选配适配器实现232接口功能 技术...
HS-TRM-100型无接触式电阻率型号测试仪是基于涡流(EddyCurrent)测试技术,能够对硅料、硅棒、硅锭及硅片进行无接触、无损伤的体电阻率测试。 无接触式电阻率型号测试仪-产品特点 ...
手动硅片测试仪可以测量硅片厚度、总厚度变化TTV、弯曲度,该仪器适用于Si,GaAs,InP,Ge等几乎所有的材料,所有的设计都符合ASTM(美国材料实验协会)和Semi标准,确保与其他工艺仪器的...
HS‐POSRT原生多晶电阻率测试仪是一款高端电阻率测试仪器,具有电阻率大量程及超大量程测量的特点,实现了电阻率从0.0001欧姆.厘米到几万欧姆.厘米(可扩展)的测试范围,具有测量精度高、稳定性...
HS-PSTT原生多晶及硅芯型号测试仪是一款高端半导体材料型号测试仪器,具有大量程测试范围的特点,尤其适用于西门子法原生硅料生产企业的高阻硅料(含硅芯、检磷棒、检硼棒等)以及各种低阻硅料型号测量,...
硅料综合测试仪HS-PSRT 本仪器是运用四探针测量原理的多功能综合测试装置,它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率,适用于半导体及太阳能行业的筛选。硅料综合测试仪-产品特点■同时检测...
1)适合于硅材料的氧、碳含量的测定; 2)可实现硅料中氧碳含量自动、快速、准确的测量; 3)具备完整的谱图采集、光谱转换、光谱处理、光谱分析及输出功能,使得操作更简单、方便、灵活。 4)全密...
NIR-01-3D型红外探伤测试仪是采用欧洲CNC工程铝合金材料,其表面都采用了高强度漆面和电氧化工艺保护,系统外框采用高质量工业设计,所有的部件的设计都达到了长期高强度使用及最小维护量的要求,做...
HS-MWR-2S-3无接触少子寿命扫描仪是一款功能异常强大的无接触少子寿命扫描仪,能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤、高分辨率的多功能扫描测试,其通过微波光电衰退特性原理来测...
金属四探头电阻率方阻测试仪-HS-MPRT-5 本仪器用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器.本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试...
HS-CLT少子寿命测试仪是一款功能异常强大的少子寿命测试仪,不仅适用于硅片少子寿命的测量,更适用于硅块、硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶等多种不规则形状硅少子寿命的测量。少子测试量程从1μs到2...
Helios-PL光致发光测试系统能够对多种太阳能电池少子寿命进行快速二维分析,能够准确的测量和计算出电池的缺陷分布及密度,同时准确反馈结果以很好的改进电池的生产工艺。 产品特点: ■适用几乎...
我公司拥有多名日本专家、博士工程师及经营管理团队,拥有专业从事碳化硅涂层以及对石墨产品进行高温纯化除杂技术。公司产品及技术广泛应用于半导体行业,LED行业,航天行业,化工行业,光伏行业,包装行业,...
SiC的物理和电学属性使其成为短波长光电、高温、耐辐射、高功率/高频率电子器件的半导体材料。然而生长优质的SiC单晶非常困难,其中SiC粉源的颗粒度、纯度、类型等各方面都极大地影响着SiC晶体的生...
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